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通用型場發(fā)射掃描電子顯微鏡

簡要描述:國儀量子通用型場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM4000X是一款穩(wěn)定通用,靈活高效的場發(fā)射掃描電鏡。分辨率可達1.9nm @1.0kV,輕松應對各種類型樣品的高分辨拍樣挑戰(zhàn),可升級超級減速模式,進一步提升低壓分辨率。

  • 產(chǎn)品型號:SEM4000X
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-03-18
  • 訪  問  量:610

詳細介紹


SEM4000X是一款穩(wěn)定通用,靈活高效的場發(fā)射掃描電鏡。分辨率可達1.9nm @1.0kV,輕松應對各種類型樣品的高分辨拍樣挑戰(zhàn),可升級超級減速模式,進一步提升低壓分辨率。同時采用了多探測器技術(shù),鏡筒內(nèi)電子探測器(UD)可探測SE和BSE信號,同時具有高分辨率性能。倉內(nèi)電子探測器(LD)采用了晶體閃爍體和光電倍增管,具備更高的靈敏度和高效性,圖像具有很好的立體感。中文操作軟件,簡單易用,豐富的自動化功能,如自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散、自動對中等等,可快速獲取高分辨圖像。


通用型場發(fā)射掃描電子顯微鏡


通用型場發(fā)射掃描電子顯微鏡

通用型場發(fā)射掃描電子顯微鏡


產(chǎn)品參數(shù)
關(guān)鍵參數(shù)分辨率0.9 nm@30 kV, SE
1.2 nm@15 kV, SE
1.9 nm@1 kV, SE
1.5 nm@1 kV(超級減速)
1.0 nm@15 kV(超級減速)
加速電壓200 V~30 kV
放大倍率1~1,000,000×
電子槍類型肖特基場發(fā)射電子槍
樣品室低真空模式/
攝像頭雙攝像頭(光學導航+樣品倉內(nèi)監(jiān)控)
XY行程110 mm
Z行程50 mm
T行程-10°~+70°
R行程360°
探測器鏡筒內(nèi)電子探測器UD-BSE/UD-SE
倉室內(nèi)電子探測器LD
插入式背散射電子探測器(BSED)
插入式掃描透射電子探測器(STEM)
低真空二次電子探測器(LVD)
能譜儀(EDS)
背散射衍射(EBSD)
擴展樣品交換倉(4寸/8寸)
旋鈕板&軌跡球
雙減速技術(shù)(Duo-Dec)/
超級減速技術(shù)
軟件操作軟件Windows操作系統(tǒng),中文SEM軟件
導航光學導航、手勢快捷導航、軌跡球(選配)
自動功能自動亮度對比度、自動
●標配 ○選配 /無



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